Microscopía SEM y AFM
Con el SEM (Sweep electron Microscopy) es sencillo obtener imágenes de alta resolución y gran profundidad; es adecuado para investigación y análisis de fallas en la manufactura de materiales.
El equipo de AFM (Atomic Force Microscopy) permite el análisis topográfico y mecánico de todo tipo de materiales (conductores y no conductores) a nivel de escala nanométrica. Es capaz de generar imágenes tridimensionales de superficies con alta resolución espacial en el orden de los nanómetros.
Aplicaciones
- Hábito cristalino para estudio de API (Principio Activo farmacéutico)
- Morfología y composición en todo tipo de materiales sólidos
- Espesor de películas delgadas y recubrimientos
- Análisis de porosidad
- Análisis de porosidad